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红外测温仪FA1B(FA1B)
红外测温仪FA1B应用：主要用于热处理，半导体加工，钢铁，线材制造。测温范围：800～1900℃（1472～3452°F）D：S=100：1响应波长：1.0μm（硅探测器）精度：±0.3%Tmeas+2%重复性：±1℃温度分辨率：±0.05℃，（±0.1°F）响应时间：10ms,可选到10秒发射率：0.1～1.0，步长0.01信号处理：峰值保持，谷值保持...
更新:2008-07-17
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红外测温仪FA1A(FA1A)
红外测温仪FA1A应用：主要用于热处理，半导体加工，钢铁，线材制造。测温范围：475～900℃（887～1652°F）D：S=20：1响应波长：1.0μm（硅探测器）精度：±0.3%Tmeas+2%重复性：±1℃温度分辨率：±0.05℃，（±0.1°F）响应时间：10ms,可选到10秒发射率：0.1～1.0，步长0.01信号处理：峰值保持，谷值保持，...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MR1SC(MR1SC)
红外测温仪MR1SC应用：用于小的或移动的目标或由于灰尘，烟雾及大气中其他微粒遮挡的目标的测量。主要用于热处理，半导体加工，钢铁，线材制造。测温范围：1000℃～3000℃（1832°F～5432°F）D：S=130：1探测器：硅/硅层探测器，通常1.0精度：满量程的±0.3%，温度分辨率：1℃或°F响应时间：10ms 发射率...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MR1SB(MR1SB)
红外测温仪MR1SB应用：用于小的或移动的目标或由于灰尘，烟雾及大气中其他微粒遮挡的目标的测量。主要用于热处理，半导体加工，钢铁，线材制造。测温范围：700℃～1800℃（1292°F～3632°F）D：S=82：1探测器：硅/硅层探测器，通常1.0精度：满量程的±0.3%，温度分辨率：1℃或°F响应时间：10ms 发射率（...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MR1SA(红外测温仪MR1SA)
红外测温仪MR1SA应用：用于小的或移动的目标或由于灰尘，烟雾及大气中其他微粒遮挡的目标的测量。主要用于热处理，半导体加工，钢铁，线材制造。测温范围：600℃～1400℃（1112°F～2552°F）D：S=44：1探测器：硅/硅层探测器，通常1.0精度：满量程的±0.3%，温度分辨率：1℃或°F响应时间：10ms 发射率（...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MA2SC(MA2SC)
红外测温仪MA2SC应用：对中，高温物体提供快速的，实时检测，用于金属热处理，钢铁，铸造和二次玻璃加工等测温范围：350～2000℃（662～3632°F）响应波长：1.6μmD：S=300：1精度：±0.30%测量值+1℃，测量值单位为K重复精度：±0.10%测量值+1℃，测量值单位为K温度分辨率：1℃或°F响应时间：1ms或10ms可选...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MA2SB(MA2SB)
红外测温仪MA2SB应用：对中，高温物体提供快速的，实时检测，用于金属热处理，钢铁，铸造和二次玻璃加工等测温范围：300～1400℃（572～2552°F）响应波长：1.6μmD：S=200：1精度：±0.30%测量值+1℃，测量值单位为K重复精度：±0.10%测量值+1℃，测量值单位为K温度分辨率：1℃或°F响应时间：1ms或10ms可选...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MA2SA(MA2SA)
红外测温仪MA2SA应用：对中，高温物体提供快速的，实时检测，用于金属热处理，钢铁，铸造和二次玻璃加工等测温范围：250～1000℃（482～1832°F）响应波长：1.6μmD：S=80：1精度：±0.30%测量值+2℃，测量值单位为K重复精度：±0.10%测量值+1℃，测量值单位为K温度分辨率：1℃或°F响应时间：1ms或10ms可选...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MA1SC(MA1SC)
红外测温仪MA1SC应用：对中，高温物体提供快速的，实时检测，用于金属热处理，钢铁，铸造和二次玻璃加工等测温范围：750～3000℃（1382～5432°F）响应波长：1.0μmD：S=300：1精度：±0.30%测量值+1℃，测量值单位为K重复精度：±0.10%测量值+1℃，测量值单位为K温度分辨率：1℃或°F响应时间：1ms或10ms可...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MA1SB(MA1SB)
红外测温仪MA1SB应用：对中，高温物体提供快速的，实时检测，用于金属热处理，钢铁，铸造和二次玻璃加工等测温范围：600～2000℃（1112～3632°F）响应波长：1.0μmD：S=300：1精度：±0.30%测量值+1℃，测量值单位为K重复精度：±0.10%测量值+1℃，测量值单位为K温度分辨率：1℃或°F响应时间：1ms或10ms可...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MA1SA(MA1SA)
红外测温仪MA1SA应用：对中，高温物体提供快速的，实时检测，用于金属热处理，钢铁，铸造和二次玻璃加工等测温范围：500～1400℃（932～2552°F）响应波长：1.0μmD：S=80：1精度：±0.30%测量值+1℃，测量值单位为K重复精度：±0.10%测量值+1℃，测量值单位为K温度分辨率：1℃或°F响应时间：1ms或10ms可选...
更新:2008-07-17
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红外测温仪TXCP7SF(红外测温仪TXCP7SF)
红外测温仪TXCP7SF应用：氟塑料，特伏龙，丙烯酸，尼龙聚乙烯，聚氯乙烯的薄膜和复合材料的生产测温范围：10～360℃响应波长：7.9μmD：S=33：1系统精度：测量值的±1%或1.4℃，取大值重复性：测量值的±0.5或±0.7℃，取大值响应时间：165ms发射率：0.10～1.00数字可调节带空气冷却：0～120℃带水冷却：0～...
更新:2008-07-17
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红外测温仪TXCG5SF(红外测温仪TXCG5SF)
红外测温仪TXCG5SF应用：玻璃表面测量如回火，退火，热成形，封接，弯曲等测温范围：250～1650℃玻璃测温专用型响应波长：5.0μmD：S=33：1系统精度：测量值的±1%或1.4℃，取大值重复性：测量值的±0.5或±0.7℃，取大值响应时间：165ms发射率：0.10～1.00数字可调节带空气冷却：0～120℃带水冷却：0～175℃...
更新:2008-07-17
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红外测温仪TXCHTSF(红外测温仪TXCHTSF)
红外测温仪TXCHTSF应用：感应加热，加热炉，金属冶炼测温范围：500～2000℃响应波长：2.2μmD：S=60：1系统精度：测量值的±1%或1.4℃，取大值重复性：测量值的±0.5或±0.7℃，取大值响应时间：100ms发射率：0.10～1.00数字可调节带空气冷却：0～120℃带水冷却：0～175℃带热保护套：0～315℃温度分辨率：0.1...
更新:2008-07-17
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红外测温仪TXCMTSF(TXCMTSF)
红外测温仪TXCMTSF应用：冶金，窑炉，平板玻璃，耐火材料，加热炉测温范围：200～1000℃响应波长：3.9μmD：S=33：1系统精度：测量值的±1%或1.4℃，取大值重复性：测量值的±0.5或±0.7℃，取大值响应时间：165ms发射率：0.10～1.00数字可调节带空气冷却：0～120℃带水冷却：0～175℃带热保护套：0～315℃温...
更新:2008-07-17
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红外测温仪(TXCLTSF)
红外测温仪TXCLTSF应用：印刷，造纸，层压，干燥/加工食品，纺织，制药测温范围：-18～500℃响应波长：8～14μmD：S=33：1系统精度：测量值的±1%或1.4℃，取大值重复性：测量值的±0.5或±0.7℃，取大值响应时间：165ms发射率：0.10～1.00数字可调节带空气冷却：0～120℃带水冷却：0～175℃带热保护套：0～3...
更新:2008-07-17
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红外测温仪MI测温探头系列(MID10)
红外测温仪MI测温探头系列玻璃和冶金行业专用型测温范围：-40～600℃D：S=2：1或10：1可选精度：±1%或±1℃，取大值热偶输出精度：读数的±1%或±2.5℃，取大值重复性：读书的±0.5%或±0.5℃取大值温度分辨率：0.3℃或0.5°F系统响应时间：150ms（95%）发射率：0.100～1.100数字调节，步长0.001信号处理：峰值...
更新:2008-07-17
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微机热原测温仪(WRY-C型)
产品简介 WRY-Ｃ型微机热原测温仪用于注射用药的热原检查和解热药的药理研究，以及用于观察药物对动物家兔体温的影响等，它是检验针剂质量和研究药物药理的专用检测仪器它采用电脑控制，按《中国药典2005版》所规定的标准而设计的，热原检测应用系统软件，能进行热原测试，新兔挑选，打印测试报告和...
更新:2008-06-24
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